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X射線顯微鏡應(yīng)用在材料研究發(fā)布日期：2025-02-11 22:03:49
Xradia 610 Versa以無(wú)損的方式觀察那些用2D表面成像技術(shù)無(wú)法探測(cè)到的深層顯微結(jié)構(gòu);利用成分襯度研究低原子序數(shù)或“近原子序數(shù)”元素及其它難于辨識(shí)的材料;能夠在大工作距離下保持高分辨率，以完成無(wú)損原位成像實(shí)驗(yàn)研究。
⚫ 材料的三維結(jié)構(gòu)表征分析;
⚫ 在多尺度下研究材料的內(nèi)部特性;
⚫ 觀察失效機(jī)理、降解現(xiàn)象和內(nèi)部缺陷;
⚫ 對(duì)微觀結(jié)構(gòu)演變過(guò)程進(jìn)行量化分析與表征;
⚫ 進(jìn)行3D原位和4D(隨時(shí)間推移的研究)成像，用以了解加熱、冷卻、干燥、加濕、拉伸、壓縮、吸入、排出及其它模擬環(huán)境的影響。
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