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X射線顯微鏡應用在材料研究發布日期：2025-02-11 22:03:49
Xradia 610 Versa以無損的方式觀察那些用2D表面成像技術無法探測到的深層顯微結構;利用成分襯度研究低原子序數或“近原子序數”元素及其它難于辨識的材料;能夠在大工作距離下保持高分辨率，以完成無損原位成像實驗研究。
⚫ 材料的三維結構表征分析;
⚫ 在多尺度下研究材料的內部特性;
⚫ 觀察失效機理、降解現象和內部缺陷;
⚫ 對微觀結構演變過程進行量化分析與表征;
⚫ 進行3D原位和4D(隨時間推移的研究)成像，用以了解加熱、冷卻、干燥、加濕、拉伸、壓縮、吸入、排出及其它模擬環境的影響。
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